Hoge temperatuuronderzoek is een betrouwbaarheidstest die wordt uitgevoerd om de hoge temperatuurweerstand van producten tijdens opslag, montage en gebruik te simuleren.Hoge temperatuuronderzoek is ook de meest gebruikte versnelde levensduurtest. The purpose of high-temperature testing is to determine the adaptability and durability of storage and use of military and civilian equipment and parts when stored and operated under normal temperature conditionsBevestig de prestaties van het materiaal bij hoge temperaturen.
Toepassingsgebied
De belangrijkste reikwijdte van hoog- en laagtemperatuuronderzoek omvat elektrische en elektronische producten, hun originele onderdelen en andere materialen.De strengheid van de test is afhankelijk van de hoge en lage temperatuur en de testduur.- hoge en lage temperaturen kunnen het product oververhitten, waardoor de veiligheid en betrouwbaarheid ervan worden aangetast of zelfs beschadigd, zoals:

· Door de verschillende uitbreidingscoëfficiënten van verschillende materialen, wat resulteert in binding en migratie tussen materialen

· Verandering van de materiële eigenschappen

· Vermindering van de elektrische prestaties van componenten

· De elasticiteit of mechanische sterkte van het elastische element wordt verminderd, waardoor de levensduur van het product wordt verkort

• het versnellen van de afbraak en het verouderingsproces van polymeermaterialen en isolatiematerialen, waardoor de levensduur van producten wordt verkort.

· De elasticiteit van flexibele materialen zoals rubber wordt verminderd en scheuren ontstaan;

• Verhoogde breekbaarheid van metalen en kunststoffen, wat leidt tot scheuren of scheuren;

· Materialen broos maken. Bijvoorbeeld plastics en staal zijn gevoelig voor breekbare schade bij lage temperaturen. De hardheid van rubbermaterialen neemt toe en hun elasticiteit neemt af.

Wacht even.

methodennormen
Referentiestandaard: GB/T 2423.1, GB/T 2423.2, IEC 60068-2-1, IEC 60068-2-2, EN 60068-2-1, EN 60068-2-2, enz.
Testparameters
Hoogtemperatuurtest: testtemperatuur, testtijd, verwarmingssnelheid;
Effect op de prestaties
Test bij hoge temperatuur: thermische veroudering, barst, verkleuring, verzachting, smelten, uitdijen of functionele storing van materialen;
Testapparatuur en -instrumenten

Het doel van de lage-temperatuurtest is te testen of het monster op lange termijn bij lage temperaturen kan worden opgeslagen en gemanipuleerd.en om de aanpasbaarheid en duurzaamheid van militaire en civiele apparatuur voor opslag en werking onder lage temperatuuromstandigheden te bepalenDe norm bevat regelgevende voorschriften voor de behandeling voorafgaand aan de proef, de eerste proefinspectie, de installatie van monsters, de controle van de kwaliteit van de materialen en de controle van de chemische eigenschappen van de materialen.tussentijdse inspectie, de behandeling na de test, de verwarmingssnelheid, de belastingsomstandigheden van de temperatuurkast en de verhouding tussen het gemeten voorwerp en de temperatuurkast.

Fouten van monsters bij lage temperaturen: de in het product gebruikte onderdelen en materialen kunnen barsten, breken, beweeglijke onderdelen vasthouden en bij lage temperaturen hun eigenschappen veranderen.

Effect van lage temperatuur
1. Maak het materiaal hard en broos;
2De viscositeit van het smeermiddel neemt toe, de stroomcapaciteit neemt af en het smeermiddel effect neemt af;
3. De prestaties van elektronische componenten veranderen;
4. waterkoeling en -vriezen;
5Het zegel gaat mis;
6- Materiële krimp veroorzaakt mechanische structurele veranderingen.
Toepassingsgebied
Onderzoek bij lage temperaturen wordt hoofdzakelijk gebruikt voor wetenschappelijk onderzoek, bewaring van medische benodigdheden, experimenten bij lage temperaturen en opslag van biologische producten, oceaanproducten, elektronische componenten,chemische materialen en andere speciale materialen.
methodennormen
GB/T2423.1-2008 "Milieuonderzoek van elektrische en elektronische producten Deel 2: Testmethode Onderzoek A: lage temperatuur"
IEC 60068-2-1:2007 "Milieuonderzoek van elektrische en elektronische producten Deel 2: Testmethode Test A: lage temperatuur"